Comprobador hipotético ampliado con 5 kV/20 mA CA y 6 kV/10 mA CC, así como funciones IR y OS, ideal para requisitos de corriente más elevados en pruebas en paralelo.
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Descripción
Las series TH9310/TH9320 son comprobadores monofásicos de hipotensión/seguridad con función de tensión soportada CA/CC y prueba de aislamiento, compactos y ligeros para uso en laboratorios y producción. El TH9310 ofrece CA 5 kV/10 mA y CC 6 kV/5 mA, el TH9320 CA 5 kV/20 mA y CC 6 kV/10 mA, cada uno con secuencias de prueba programables, descarga rápida e interfaces completas.Características
- Cuatro funciones de prueba: Tensión soportada de CA, tensión soportada de CC, resistencia de aislamiento (IR) y comprobación de abierto/cortocircuito
- Prueba de aislamiento: 0,10-1,00 kV, rangos de resistencia 1 MΩ-9.999 MΩ con descarga automática al final de la prueba; precisión típ. ±(5 % lectura + 2 dígitos) en el rango de 500-1000 V, ±(10 % lectura + 2 dígitos) por encima de este rango
- Detección y descarga de arco: descarga automática tras la prueba de CC; detección de arco en varios niveles de sensibilidad CA/CC
- Programación y memoria: Hasta 5 programas/pasos de prueba (según modelo), típ. 5 grupos × hasta 20 ó 50 pasos (según versión de firmware)
- Pantalla y funcionamiento: TFT-LCD de matriz de puntos de 480×272, teclado numérico y teclas programables para una navegación intuitiva por los menús
- Interfaces: RS232, USB host/dispositivo, HANDLER/PLC, GPIB/LAN opcional con protocolo SCPI/Modbus para integración de automatización
- Funciones de seguridad: OVP, OCP, OPP, OTP, detección de corriente de tierra, bloqueo de teclas, visualización PASS/FAIL con señal acústica
- Control de tiempo: tiempos ajustables de subida/caída de tensión y duración de la prueba 0,1-999,9 s, tiempos de espera para IR 0,2-999,9 s, precisión de tiempo ±(1 % + 0,1 s)
- Diseño robusto y compacto: dimensiones aprox. 280×89×428 mm, peso TH9310 ≈13 kg, TH9320 ≈15 kg, ocupa poco espacio
- Diseño de salida lineal: baja distorsión de la forma de onda (<3%) y regulación de salida estable para obtener resultados fiables en las pruebas
Aplicaciones
- Pruebas de seguridad: Pruebas de rotura y aislamiento en electrodomésticos, transformadores, componentes electrónicos, placas de circuito impreso y componentes de alta tensión
- Líneas de producción automatizadas: Integración en bancos de pruebas mediante HANDLER/PLC/USB/RS232, multipruebas de alta velocidad (comprobación de abierto/cortocircuito antes de la prueba de AT)
- Laboratorio y desarrollo: verificación del diseño, garantía de calidad, investigación y formación en el campo de las pruebas de aislamiento y rotura
- Pruebas previas EMC/EMI: Pruebas previas de aislamiento de componentes en condiciones de prueba variables
- Pruebas de materiales: Pruebas de aislamiento de materiales y componentes para determinar su resistencia y comportamiento ante la rotura
Especificación
| Modell |  TH9310B | TH9310/20 |
|---|---|---|
| AC Spannungsbereich | 0,05–5,00 kV ±(2% Reading + 5 Digits) | 0,05–5,00 kV ±(2% Reading + 5 Digits) |
| AC Strommessbereich | 0,000–10,00 mA ±(2% Reading + 2 Digits) | 0,000–20,00 mA ±(2% Reading + 2 Digits) |
| DC Spannungsbereich | 0,05–6,00 kV ±(2% Reading + 5 Digits) | 0,05–6,00 kV ±(2% Reading + 5 Digits) |
| DC Strommessbereich | 0 µA–5,00 mA ±(2% Reading + 2 Digits) | 0 µA–10,00 mA ±(2% Reading + 2 Digits) |
| Isolationstest-Spannung | 0,10–1,00 kV ±(2% Reading + 2 V) | 0,10–1,00 kV ±(2% Reading + 2 V) |
| Isolationstest-Widerstand | 1 MΩ–9.999 MΩ (Auto/Fix); 500–1000 V: ±(5%+2 Digits); 1000–9999 MΩ: ±(10%+2 Digits) | 1 MΩ–9.999 MΩ; Genauigkeit wie TH9310 |
| ARC Detection | AC/DC, Stufen 1–9 | AC/DC, Stufen 1–9 |
| Display | 480×272 dot-matrix TFT-LCD | 480×272 dot-matrix TFT-LCD |
| Schnittstellen | RS232, USB Host/Device, HANDLER; optional GPIB/LAN (SCPI/Modbus) | RS232, USB Host/Device, HANDLER; optional GPIB/LAN (SCPI/Modbus) |
| Memory | 5 Gruppen × bis zu 20–50 Schritte | 5 Gruppen × bis zu 20–50 Schritte |
| Abmessungen (B×H×T) | 280×89×428 mm | 280×89×428 mm |
| Gewicht | ≈13 kg | ≈15 kg |
| Zeitgenauigkeit | ±(1%+0,1 s) | ±(1%+0,1 s) |
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