Comprobador modular con 1280×4 hilos/2560×2 hilos, 50-1000 V CC/50-750 Vrms CA hipotética y versátiles pruebas de componentes y continuidad.
Descripción
La serie TH6XX incluye comprobadores modulares de cables y mazos de cables con pantalla TFT-LCD de 7 pulgadas, interfaz de automatización integrada y procedimientos de prueba versátiles. Los distintos modelos (TH610, TH615, TH630) ofrecen diferentes números de canales y rangos de voltaje para configuraciones de prueba escalables en entornos de producción y laboratorio.Características
- Pantalla TFT-LCD de 7 pulgadas a color real (800 × 480) con interfaz de usuario en chino e inglés y funcionamiento táctil/por teclado.
- Diseño modular con soporte para conversión de prueba de 2 hilos/4 hilos, hasta 5120 canales de escaneo.
- Pruebas de continuidad, cortocircuito y cortocircuito/circuito abierto instantáneo con búsqueda automática de puntos.
- Pruebas de media tensión CA/CC con detección de arco y separación de alta/baja tensión (aislamiento >100 GΩ)
- Pruebas de componentes (resistencia, capacitancia, diodo, polaridad) mediante tecnología de cuatro hilos y medición paralela de voltaje/corriente.
- Funciones de secuenciación y automatización: Salidas de estado bueno/malo, interfaz HANDLER, RS232/RS485, host/dispositivo USB, LAN, opciones GPIB.
- Medición del termistor (NTC) y prueba de contacto antes del inicio de la prueba.
- Autodiagnóstico del dispositivo, diagnóstico en línea, actualización de firmware mediante memoria USB.
- Diseño robusto para su uso en sistemas de automatización, bancos de pruebas de producción y entornos de laboratorio.
Aplicaciones
- Electrónica del vehículo: batería, unidad de control y cableado de sensores, mazos de cables, conexiones de audio/video.
- Comunicación/TI: Pruebas de teléfono, red y cables USB/HDMI/VGA/SATA.
- Industria electrónica: cables planos, conectores, cables de alimentación, enchufes multipolares.
- Pruebas de componentes: Componentes pasivos (condensador, inductor, resistencia, diodo, polaridad)
- Pruebas de seguridad: Pruebas de aislamiento y resistencia de CA/CC para cables y materiales.
- Bancos de pruebas de producción automatizados: pruebas de secuencia, evaluación de aprobado/reprobado, adquisición de datos, control por PC (SCPI/Modbus).
- Investigación, desarrollo y laboratorio: Pruebas de prototipos, diagnósticos a largo plazo, pruebas automatizadas de calidad de red.
Especificación
| Comparación de modelos | ![]() TH610-2560 | ![]() TH610-5120 | ![]() TH615-640 | ![]() TH615-1280 | ![]() TH630-320 | ![]() TH630-640 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Canales de escaneo de 4 hilos | 1280 | 2560 | 640 | 1280 | 320 | 640 |
| Canales de escaneo de 2 hilos | 2560 | 5120 | – | – | – | – |
| Módulo máximo | 20 | 40 | 10 | 20 | 10 | 20 |
| fuente de CC | 0,1–5 V; 2% en reposo | 0,1–5 V; 2% en reposo | 0,1–5 V; 2% en reposo | 0,1–5 V; 2% en reposo | 0,1–5 V; 2% en reposo | 0,1–5 V; 2% en reposo |
| fuente de CC | 1–15 mA; 2% | 1-20 mA, 100 mA o 1 A; 2 % | 1-20 mA, 100 mA o 1 A; 2 % | 1-20 mA, 100 mA o 1 A; 2 % | 1-20 mA, 100 mA o 1 A; 2 % | 1-20 mA, 100 mA o 1 A; 2 % |
| Programa. Fuente de corriente continua de alto voltaje. | 50–1000 V CC; ±(1% del valor objetivo + 0,5% del valor final) | 50–1000 V CC; ±(1% del valor objetivo + 0,5% del valor final) | 50–1500 V CC; ±(1% del valor objetivo + 0,5% del valor final) | 50–1500 V CC; ±(1% del valor objetivo + 0,5% del valor final) | 50–3000 V CC; ±(1% del valor objetivo + 0,5% del valor final) | 50–3000 V CC; ±(1% del valor objetivo + 0,5% del valor final) |
| Programa. Fuente de CA de alta tensión | 50–750 Vrms; ±(1% del valor objetivo + 0,5% del valor final) | 50–750 Vrms; ±(1% del valor objetivo + 0,5% del valor final) | 50–1000 Vrms; ±(1% del valor objetivo + 0,5% del valor final) | 50–1000 Vrms; ±(1% del valor objetivo + 0,5% del valor final) | 50–2000 Vrms; ±(1% del valor objetivo + 0,5% del valor final) | 50–2000 Vrms; ±(1% del valor objetivo + 0,5% del valor final) |
| fuente de señal de CA | 50 Hz–100 kHz; 1 Vrms; precisión de frecuencia del 0,02 % | 50 Hz–100 kHz; 1 Vrms; precisión de frecuencia del 0,02 % | 50 Hz–100 kHz; 1 Vrms; precisión de frecuencia del 0,02 % | 50 Hz–100 kHz; 1 Vrms; precisión de frecuencia del 0,02 % | 50 Hz–100 kHz; 1 Vrms; precisión de frecuencia del 0,02 % | 50 Hz–100 kHz; 1 Vrms; precisión de frecuencia del 0,02 % |
| Medición de capacidad | 10 pF–1000 µF; ±(1 % del valor medido + 0,005 % del valor final) | 10 pF–1000 µF; ±(1 % del valor medido + 0,005 % del valor final) | 10 pF–1000 µF; ±(1 % del valor medido + 0,005 % del valor final) | 10 pF–1000 µF; ±(1 % del valor medido + 0,005 % del valor final) | 10 pF–1000 µF; ±(1 % del valor medido + 0,005 % del valor final) | 10 pF–1000 µF; ±(1 % del valor medido + 0,005 % del valor final) |
| Prueba de resistencia | 10 mΩ–1 MΩ | 10 mΩ–1 MΩ | 1 µΩ–1 MΩ | 1 µΩ–1 MΩ | 1 µΩ–1 MΩ | 1 µΩ–1 MΩ |
| Prueba de cortocircuito/circuito abierto | 1 kΩ–50 kΩ; 10% | 1 kΩ–50 kΩ; 10% | 1 kΩ–50 kΩ; 10% | 1 kΩ–50 kΩ; 10% | 1 kΩ–50 kΩ; 10% | 1 kΩ–50 kΩ; 10% |
| Prueba de diodos | 0–10 V; ±(5% del valor medido + 1% del valor final) | 0–10 V; ±(5% del valor medido + 1% del valor final) | 0–10 V; ±(5% del valor medido + 1% del valor final) | 0–10 V; ±(5% del valor medido + 1% del valor final) | 0–10 V; ±(5% del valor medido + 1% del valor final) | 0–10 V; ±(5% del valor medido + 1% del valor final) |
| Resistencia de aislamiento | 1 MΩ–1000 MΩ; ±(3% + 0,1%) o ±(7% + 2%) | 1 MΩ–1000 MΩ; ±(3% + 0,1%) o ±(7% + 2%) | 1 MΩ–1000 MΩ; ±(3% + 0,1%) o ±(7% + 2%) | 1 MΩ–1000 MΩ; ±(3% + 0,1%) o ±(7% + 2%) | 1 MΩ–1000 MΩ; ±(3% + 0,1%) o ±(7% + 2%) | 1 MΩ–1000 MΩ; ±(3% + 0,1%) o ±(7% + 2%) |
| corriente de fuga de CC | 1 µA–5 mA; ±(5% del valor medido + 0,04% del valor final) | 1 µA–5 mA; ±(5% del valor medido + 0,04% del valor final) | 1 µA–5 mA; ±(5% del valor medido + 0,04% del valor final) | 1 µA–5 mA; ±(5% del valor medido + 0,04% del valor final) | 1 µA–5 mA; ±(5% del valor medido + 0,04% del valor final) | 1 µA–5 mA; ±(5% del valor medido + 0,04% del valor final) |
| corriente de fuga de CA | 0,01–5 mA; ±(10% del valor medido + 0,1% del valor final) | 0,01–5 mA; ±(10% del valor medido + 0,1% del valor final) | 0,01–5 mA; ±(10% del valor medido + 0,1% del valor final) | 0,01–5 mA; ±(10% del valor medido + 0,1% del valor final) | 0,01–5 mA; ±(10% del valor medido + 0,1% del valor final) | 0,01–5 mA; ±(10% del valor medido + 0,1% del valor final) |
| Prueba de contacto | Solo en modo de 4 cables | Solo en modo de 4 cables | Solo en modo de 4 cables | Solo en modo de 4 cables | Solo en modo de 4 cables | Solo en modo de 4 cables |
| Interfaz del MANEJADOR | 8 salidas y 8 entradas | 8 salidas y 8 entradas | 8 salidas y 8 entradas | 8 salidas y 8 entradas | 8 salidas y 8 entradas | 8 salidas y 8 entradas |
| Dimensiones y peso | 483 × 396 × 535 mm; aprox. 35 kg | 483 × 660 × 535 mm; aprox. 60 kg | 483 × 396 × 535 mm; aprox. 35 kg | 483 × 660 × 535 mm; aprox. 60 kg | 483 × 396 × 535 mm; aprox. 35 kg | 483 × 660 × 535 mm; aprox. 60 kg |











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