Descripción
La serie TH2851 es un analizador de impedancias de precisión con frecuencias de prueba de 10 Hz a 130 MHz, una precisión básica del 0,08 %, tecnología de puente de equilibrio automático de cuatro polos y señales de CA de 5 mV-2 V y polarización de CC de hasta ±40 V/±100 mA.Ofrece tres modos de medición (punto, lista y exploración gráfica), una función de lista multiparámetro de 1601 puntos y visualización de curvas de cuatro canales con 16 disposiciones de pantalla dividida.
Con una velocidad de prueba de hasta 5 ms, gran estabilidad y compatibilidad con SCPI (por ejemplo, Keysight E4990A/E4980A, HP4284A), se puede caracterizar con precisión una amplia gama de componentes pasivos y semiconductores.
Las potentes funciones de clasificación y las herramientas de análisis gráfico facilitan la prueba automatizada de componentes y el control de calidad en el laboratorio y la producción.
Características
- Frecuencia de prueba: 10 Hz-15 MHz
- Alta precisión: tecnología de puente de equilibrio automático, configuración de prueba de cuatro pares de polos
- Alta estabilidad y consistencia
- Alta velocidad: Máxima velocidad de prueba de hasta 5 ms
- Alta resolución: pantalla táctil capacitiva de 10,1 pulgadas, resolución 1280 x 800
- Tres métodos de prueba: prueba de puntos, escaneado de listas y escaneado de gráficos
- función de escaneo de lista multiparámetro de 1601 puntos
- Medición de cuatro parámetros
- función de escaneo gráfico de 4 canales: cada canal puede mostrar 4 curvas, 16 modos diferentes de visualización en pantalla dividida para canales y curvas
- Modos de visualización para canales y curvas
- Potente clasificación: clasificación de 10 niveles en modo LCR
- Modo de escaneo gráfico: cada curva se ordena individualmente
- Alta compatibilidad: Admite el conjunto de comandos SCPI, compatible con KEYSIGHT E4990A, E4980A, E4980AL, HP4284A
Aplicaciones
- Componentes pasivos
Estimación de parámetros de impedancia y análisis de rendimiento de condensadores, inductores, núcleos magnéticos, resistencias, componentes piezoeléctricos, transformadores, componentes de chip y componentes de red - Componentes semiconductores
Comprobación y análisis de parámetros parasitarios de circuitos integrados de controladores LED, propiedades C-VDC de varactores
Análisis de parámetros parasitarios de transistores o circuitos integrados - Otros componentes
Evaluación de la impedancia de placas de circuitos impresos, relés, interruptores, cables, baterías - Material dieléctrico
Evaluación de la constante dieléctrica y el ángulo de pérdida de plásticos, cerámicas y otros materiales - Materiales magnéticos
Evaluación de la permeabilidad magnética y el ángulo de pérdida de ferritas, cuerpos amorfos y otros materiales magnéticos - Materiales semiconductores
Constante dieléctrica, conductividad eléctrica y propiedades C-V de los materiales semiconductores - Células de cristal líquido
Constante dieléctrica, constante de elasticidad y propiedades C-V de las células de cristal líquido
Especificación
| Modelo | ![]() TH2851-015 | ![]() TH2851-030 | ![]() TH2851-050 | ![]() TH2851-080 | ![]() TH2851-130 |
|---|---|---|---|---|---|
| Frecuencia de prueba | 10Hz-15MHz | 10Hz-30MHz | 10Hz-50MHz | 10Hz-80MHz | 10Hz-130MHz |
| Precisión básica | 0.08% | 0.08% | 0.08% | 0.08% | 0.08% |
| Tensión de la señal de CA | 5 mVrms a 2 Vrms | 5 mVrms a 2 Vrms | 5 mVrms a 2 Vrms | 5 mVrms a 2 Vrms | 5 mVrms a 2 Vrms |
| Corriente | 200 µArms a 20 mArms | 200 µArms a 20 mArms | 200 µArms a 20 mArms | 200 µArms a 20 mArms | 200 µArms a 20 mArms |
| Tensión de polarización CC | 0 V a ± 40 V | 0 V a ± 40 V | 0 V a ± 40 V | 0 V a ± 40 V | 0 V a ± 40 V |
| Corriente | 0 mA a ± 100 mA | 0 mA a ± 100 mA | 0 mA a ± 100 mA | 0 mA a ± 100 mA | 0 mA a ± 100 mA |










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